手动编程与编辑工具
本节概述自动编程完成后从标记对齐、模板审查、手动补录的完整操作讲解。
标记 / 对齐 PCB
用于检测阶段的 PCB 位置对齐。因为在检测阶段,PCB 可能存在位置偏移或轻微旋转,标记对齐可以自动将图像对齐至同一位置,确保检测的准确性。
点击“+ 标记”,框选 PCB 上固定的2个参考标记(圆形、矩形或复杂图案均可)。
框选区域应略大,以保证轻微位移仍能正确定位。确认后点击“预测中心”完成标记定义。
Note
未能找到标记可能会导致检测失败
使用技巧
标记圆形标记时,请注意以下几点:
圆形应具有清晰的形状:确保标记的圆形边界完整且规则。
圆形边缘应清晰可见:避免模糊或不明确的边缘,以便准确定位。
圆形不应与其他物体重叠:确保标记区域内没有其他干扰物体。
搜索区域内不应存在相似的圆形:避免因多个相似圆形导致的混淆。
以下是一些使用圆形标记的正例和反例:
示例 |
描述 |
|---|---|
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正例 1: 圆形具有清晰的形状和边缘,并区域内无其他圆形,适合作为标记。 |
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正例 2: 尽管存在多个圆形,但其中一个圆形具有更高的对比度,清晰可见。 |
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反例 1: 圆形边缘模糊,多个圆形中没有一个清晰突出的边缘。 |
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反例 2: 圆形边缘不清晰,难以准确定位。 |
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反例 3: 圆形被遮挡,无法完整识别。 |
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反例 4: 搜索区域内存在多个相似的圆形,容易导致定位混淆。 |
模板编辑器
模板编辑器的左侧为自动编程生成的元件列表;若已上传 CAD,元件名称会同时显示丝印/标识。点击料号或封装即可自动分组同类别元件。
当进入模板编辑器时,若存在不健康元件,系统会弹出警告提示:
点击“确认”后可以继续操作。
可使用搜索栏按名称搜索,或者按评估通过/不通过、健康/不健康过滤:
健康性核对
训练前检查:
基础信息:确认,或者按需录入 标识(丝印)、封装、料号(PN)。
全板预览:是否存在缺失、漂移、超大/超小框。
局部密集区:是否重叠、是否覆盖相邻器件。
不健康列表:低置信度 / CAD 未匹配 / 尺寸异常。
手动编程工具栏
右侧工具栏包含:
选择工具:左键拖拽框选多项未分组的检测框,右键唤出菜单,可以分组合并为元件;中键拖拽平移;滚轮缩放。
拖拽工具:按住任意鼠标键平移视图;滚轮缩放;用于纯浏览不影响选择。
3D 视图工具(仅 3D 模式):框选后弹出局部点云,查看局部点云质量。在右上角可以看到点云颜色的选项,可以切换为绿色,伪彩色,深度等不同的显示模式,方便查看点云细节。
本体工具:绘制主体检测框。
焊料工具:绘制焊料检测框。
引脚工具:绘制整排的引脚检测框,框选后,可以右键复制 / 旋转用于其它侧。
文本工具:标注丝印、字符、批次 / 日期等需要 OCR 的区域。
条形码工具:绘制条形码检测区域,用于 PCB 序列号追溯。
关于快捷键,参考 编程页面快捷键
2D 模式下常见封装编程示例
电容、电阻
- 步骤:
选择“本体工具”框出元件主体区域(紧贴真实外廓,尽量减少空白)。
选择“焊料工具”分别框出左右(或多端)焊盘/焊点区域;
- 质量建议:
本体框贴合元件实际形状,避免包含过多空白区域;
焊料框应该紧贴焊料的爬锡区域,不确定时可以使用3D视图工具来确认;
分组与属性: 使用“选择工具”框选主体与全部焊料框 → 右键 “分组” 生成一个元件,填写:
标识(必填,建议与丝印一致)
(可选)料号 / 封装
(可选)备注或版本号
点击“创建新元件”完成。
QFP 封装 IC 芯片
- 步骤:
选择“本体工具”框出芯片主体(紧贴封装外沿)。
选择“IC 引脚工具”框出任意一侧整排引脚(覆盖焊盘 + 焊料 + 引脚末端区域)。
右键“复制”该引脚框,拖动至对侧或其它边;必要时使用右键旋转使其与该边引脚方向一致。
- 质量建议:
框贴合元件实际形状,避免包含过多空白区域;
(2D) IC 引脚检测需要划分 3 个区域:焊盘、焊料、引脚末端;参见 3.2 IC 引脚检测 v2(2D,基于颜色比例) 以了解区域划分标准。
- 分组与属性:
使用“选择工具”框选主体与全部焊料框 → 右键 “分组” 生成一个元件,填写:
标识(必填,建议与丝印一致)
(可选)料号 / 封装
(可选)备注或版本号
点击“创建新元件”完成。
SOP/TSSOP 封装的存储芯片或驱动芯片
与 QFP 类似:本体工具框主体 → IC 引脚工具框一侧引脚后复制到另一侧 → 分组创建元件。
3D 模式下常见封装编程示例
电容、电阻
- 步骤:
选择“本体工具”框出元件主体区域(紧贴真实外廓,尽量减少空白)。
选择“焊料工具”分别框出左右(或多端)焊盘/焊点区域;
质量建议:
分组与属性: 使用“选择工具”框选主体与全部焊料框 → 右键 “分组” 生成一个元件,填写:
标识(必填,建议与丝印一致)
(可选)料号 / 封装
(可选)备注或版本号
点击“创建新元件”完成。
QFP 封装 IC 芯片
- 步骤:
选择“本体工具”框出芯片主体(紧贴封装外沿)。
选择“IC 引脚工具”框出任意一侧整排引脚(覆盖焊盘 + 焊料 + 引脚末端区域)。
右键“复制”该引脚框,拖动至对侧或其它边;必要时使用右键旋转使其与该边引脚方向一致。
- 质量建议:
本体框贴合元件实际形状,避免包含过多空白区域;
(3D) IC 引脚检测需要定义在爬锡区域部分,然后延展ROI延展至部分基板上
- 分组与属性:
使用“选择工具”框选主体与全部焊料框 → 右键 “分组” 生成一个元件,填写:
标识(必填,建议与丝印一致)
(可选)料号 / 封装
(可选)备注或版本号
点击“创建新元件”完成。
SOP/TSSOP 封装的存储芯片或驱动芯片
与 QFP 类似:本体工具框主体 → IC 引脚工具框一侧引脚后复制到另一侧 → 分组创建元件。
私有库
编程好的元件可以添加至私有库,方便后续在其它产品中复用。
训练与评估
确认全部元件后点击 训练 ,耗时 ~1 分钟;
自动参数生成
完成训练后,可以点击 自动生成检测参数 来基于所有元件的训练集数据分布生成检测参数。
也可以选中一个元件,然后在右侧的设置栏中,点击 生成参数 来只为该元件生成检测参数。此外,如果手动修改了参数,也可以通过点击 生成参数 按钮,快速恢复到系统推荐的默认值。
评估
点击元件列表下的“评估全部”按钮,对所有元件进行评估,(绿=模型预测正确 / 红=模型预测与实际不符)。
也可以选中一个元件,然后在右侧的设置栏中,点击 评估 来只对该元件进行评估。
后续:不健康项可参考 检测参数 章节按需微调;修改或补录后重新训练+评估即可迭代。
训练集和模板
在界面右侧,可以查看当前选中的检测项的训练集。可以用鼠标在显示窗口中选择检测框,或者在左侧的元件列表中选择元件,训练集会自动切换到该元件下。
训练集里代表了该元件的所有图片,当初次建模时,数据集里只会有基准的标准数据。可以根据封装或者拼版的方式,归类同类型的元件丰富训练集。
后续在检测阶段,反馈过的图片也会自动添加到训练集中,便于后续调整优化模型, 参考 反馈与模型迭代
评估结果的颜色指示
每个图片下方都有两个颜色指示条:
![]()
左侧颜色条代表 **Ground Truth**(真实值)。
右侧颜色条代表 评估结果:
绿色 表示 OK。
红色 表示 NG。
未评估时没有颜色显示。
此外,左侧的元件列表颜色与评估结果对应:
当训练集里所有数据的评估结果与 Ground Truth 完全匹配时,元件列表会显示 绿色。
如果存在与 Ground Truth 不匹配的评估结果,元件列表会显示 红色。
取消反馈
在什么情况下需要取消反馈?当某个数据的质量或可信度出现问题时,就应该选择取消反馈。例如:
图片因对齐错误或放置错误导致异常错位。
图片因成像问题(如模糊或质量差)而无法提供可靠信息。
数据分布异常,偏离正常的缺陷分布。
此时,取消反馈可以避免这些低质量数据干扰模型的整体评估结果。
在数据集中选择图片后,可以在下方选择“反馈”或“取消反馈”。
反馈:将当前图片的评估结果标记为参考值,用于后续训练。
取消反馈:移除当前图片的反馈标记。
查看评估分数
评估完成后,训练集下半部分会显示评估结果,如图所示:
界面中会显示一个 0-1 的分数条,并通过阈值线将绿色和红色区域区分开来:
如果模型的分数低于阈值,落在绿色区域内,则评估结果为 OK。
如果模型的分数高于阈值,落在红色区域内,则评估结果为 NG。
当前分数:模型对该图片的预测分数。分数越接近 0,表示越接近正常样本;分数越接近 1,表示越接近异常样本。
阈值:用于判定 OK/NG 的分数界限。
用户可以根据评估分数调整参数,详情请参考 检测参数,以优化检测效果。